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SH-1半圓試塊
產品介紹：
SH-1半圓試塊可調整探測范圍，測定儀器的水平線性、垂直線性和動態范圍，測定斜探頭的入射點、折射角及調整探傷靈敏度。
試塊參數尺寸：
GB/T 11344-2008
| 4A階梯： 6.25～25mm | 塊 | 480 | |
4B試塊： 5～20mm | 塊 | 480 | ||
4 階梯： 0.25-1.00 英寸 | 塊 | 480 | 美國常規試塊 | |
5A 試塊:2.5～12.5mm | 塊 | 540 | ||
5B 試塊:2～10mm | 塊 | 540 | ||
5 階梯： 0.1-0.5 英寸 | 塊 | 540 | 美國常規試塊 | |
7A 階梯： 3～48mm | 塊 | 680 | ||
7B 階梯： 1～10mm | 塊 | 680 | ||
GB/T18852-2002《測量接觸探頭聲束特性的參考試塊和方法》 | 半圓階梯試塊（HS 試塊） | 塊 | 1600 | |
橫孔試塊（SDH 試塊） | 塊 | 1340 |
